测量继电器触点弹跳时间的程序。方案、说明

Z80 微处理器的程序，用于测量继电器触点的弹跳时间。无线电电子电气工程百科全书

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这里描述的Z80微处理器的程序面向自动测试微处理器系统中的执行，测量继电器芯的缩回时间和继电器触点的弹跳，如果将该标准程序用作测试程序的一部分，则无需复杂的设备。所提出的程序还提供了足够的测量精度。总触点闭合时间可通过将磁芯缩回时间和继电器触点弹跳时间相加得出。

当被测继电器连接到实现逻辑电平转换的 DI 数字数据输入端口时，将执行由两部分组成的程序。程序的第一部分形成周期 1，确定继电器核心缩回的时间。第二部分计算继电器触点的弹跳时间。

测量继电器触点咔哒声时间的程序框图（点击放大）

Z80 微处理器软件，
测量继电器触点弹跳时间

线路地址 B1 B2 B3 B4
1
2;弹跳时间计
3
4 ;该程序将测量触点弹跳时间和缩回时间
5；铁芯弯曲。弹跳时间值将保存在 HL 寄存器中，
6 ；以及 DE 寄存器中的引入时间。
7
8
9
10 ;标题“弹跳计时器”
11 清单 B、X
12 姓名弹跳
13 阿塞格
14ORG-3000H
15
16 3000 次弹跳：
17 3000 F3 DI ; 禁止中断
18
19 3001 21 18 FC LD HL,-TIMEOUT ;减去接触时间
;弹跳时间计数器
20 3004 01 E8 03 LD SU, TIMEOUT ;设置接触时间计数器
21 3007 11 FF FF LD DE, -1 ;设置回退时间计数器
22
23 3000A ZE 07 LD A, CLOSE ;闭合继电器
24 3000C D3 C 输出（PORTST），A
25
26 ;抽芯时间
27
28 3000E 环路1：
29 3000E 13 INC DE ;增量计数器
30
31 300F DB 92 IN A, (PORTIM) ;获取继电器状态
32 3011 FE FF CP TRUE ;等待第一个不稳定
；触点闭合
33 3013 20 F9 JR 新西兰，LOOP1 - $
34
35 ;弹跳时间
36
37 3015 循环2：
38 3015 23 INC HL ;增加反弹时间计数器
39
40 3016 DB 92 IN A, (PORTIM) ;获取继电器状态
41 3018 FE FF CP TRUE ；继电器状态是否正确？
42 301A C2 23 30 JP NZ, RESEIC ；如果没有，恢复接触时间计数器
43
44 301D 0B DEC BC ;减少接触时间计数器
45 301E 78 LD A, B ;设置标志
46 301F BL 或 C
47 ;运行一个循环，同时计时
48 3020 20 F3 JR NZ, LOOP2- $ ；无接触 = 零
49
50 3022 C9 RET ;返回，弹跳时间值
; 在 HL 寄存器中，以及吸合时间
51 ;在寄存器DE中
52
53 ;恢复接触时间计数器
54
55 3023 重置：
56 3023 01 E8 03 LD BC, TIMEOUT ;恢复接触时间计数器
57 3026 00 NOP ;保持循环时间恒定
58 3027 18 欧盟 JR LOOP2-$
60
61
62；数据
63
64 03EB 超时 EQU 1000
65 00FF 真实设备 0FFH
66 0007 关闭设备 07H
67 00C2 波特特 EQU 0C2H
68 0092 波廷装备 92H
69 3029 完

装配误差 pa = 0

为了保持每个周期的测量精度，中断被禁用。循环 1（拉入时间计数器）由计数器增量和检查程序组成。每次通过回路时，检查 DI 端口的状态是否为第一个间歇继电器触点闭合。当检测到这种影响时，程序会测量内核的缩回时间并将该值存储在 DE 寄存器中。然而，真正的拉入时间是通过将 DE 寄存器的内容乘以 36 并将结果除以 Z80 微处理器的时钟速度来计算的。

循环 2（继电器反弹时间计数器）是增量和测试子程序，并包含一个额外的程序来运行接触和恢复时间计数器。每次循环，HL 寄存器的内容都会递增，并检查 DI 端口的状态。如果继电器触点打开，则将该时间的预定值加载到触点时间计数器中。在继电器触点闭合的情况下，触点时间计数器值递减，直到达到零。当接触时间计数器寄存器的内容为零时，程序测量接触反弹时间，并将该值存储在 HL 寄存器中。但是，为了得到真正的弹跳时间，首先将接触时间值的附加二进制码写入HL寄存器，然后将其内容乘以60，再除以Z80微处理器的时钟频率。

作者：范·哈里斯；出版物：N. Bolshakov，rf.atnn.ru

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