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汽车 ULF 电压转换器 MIS 晶体管的选择。 无线电电子电气工程百科全书

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无线电电子与电气工程百科全书 / 电压转换器、整流器、逆变器

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1. 学会阅读第一手资料

“在 MIS 晶体管的所有参数中,对我们来说最重要的是开沟道电阻。” 克劳斯莫比尔

没错,但它不是唯一的。 让我们获取功率晶体管(例如 IRFP054N)的文档并将其逐个拆开。 在此过程中,我们将确定优先事项——什么是重要的,什么是不重要的。 我马上说,根据三个主要参数——沟道电阻Rds、最大漏源工作电压Vbrds和沟道电流Id,可以得出结论,但建议使用完整的数据集进行操作。 如果只是因为 +25C 时的最大允许参数保证在 100C 时会损坏器件。 此外,不同制造商解释的极限数据并不总是具有可比性。

那么,我们来读一下文档

绝对高点

Vgs=10V 时的恒定漏极电流:81C 时 Id=25A,57C 时 Id=100A。 注释中写道:“根据外壳的最大(理想)热阻计算。” 因此,这在现实生活中是不可能实现的。 我们会根据合理的热功率、脉冲占空比和通道电阻自行确定限制电流。

脉冲漏极电流Id=290A(有类似保留)。 美妙,但同样难以接近。

25℃时消耗的热功率Pmax=170W,其降低温度系数LDF(Pmax)=-1.1W/C。 这两个参数始终密不可分。 毕竟,当晶体被加热到125C时(这是正常的),最大允许功率就降低到170-1.1*(125-25)=60W。 这是 60 W,储备为 50 W,我们现在重点关注。

栅源电压限制 (Vgs) - +/-20V。 对于 12V 网络来说足够安全。

热阻

PN 结外壳 - Rjc=0.9 C/W。 这意味着在50W的热损耗下,晶体工作区域的温度将比晶体管本体的温度高0.9 * 50 = 45度(而晶体管本体的温度又小于散热器的平均温度) 。

散热器外壳,平坦表面,涂有硅脂 - Rcs=0.24 C/W。 那些。 60W 将另外产生 12C 的热量损失。 如果使用云母垫片,情况会更糟一些。 支持完全隔离晶体管的另一个论点。 唉,还是少了,狗又珍贵……

PN 过渡空气(在没有散热器的情况下)- Rja=40C/W。 应该证明的是,如果没有散热器,该设备就毫无用处。

电气参数(25C时pn结处)

疯狂的参数。 考虑到上述情况,路口的25℃只能是在非常寒冷的冬天。 因此,所有参数的温度依赖性都极其重要。 感谢上帝,IR 没有撒谎,并且诚实地谈论它们。

闭合沟道的击穿电压为Vbrds=55V(Vgs=0V,沟道阈值电流250μA),其降低温度系数LDF(Pmax)=-0.06W/C。 那些。 在 125C 时,Vbrds 将降至 49V。 两个很好的结论。 首先,漏极处的电压摆幅等于两个电源电压(即最大 30V)加上开关时不可避免的振荡(再加上 10V)——总共 40V,这显然符合标准。 其次,如果 250 µA 已经相当大并且被视为“击穿”电流,那么闭合晶体管的正常漏电流甚至会低一个数量级(25C 和 Vds = 25V 时为 55 µA,但 250C 时为 150 µA) 。 当然,在非工作位置无需将其(转换器)与电池断开。

Id=43A 且 Vgs=10V 时的开路电阻:Rds=12mOhm(毫欧)。 抵抗力好。 在这方面最好的单晶 IRFP064N,具有 6.4 mOhm(这是 1999 年的最低电阻。时代变迁 - 2002 年......)。 Less - 仅适用于多芯片模块。 其随温度升高的表现如图 4 所示。当温度降至 -40C 时,电阻下降 25%。 100C 时 - 增加 40%。 在 175C 时它会翻倍。 因此,在进一步的计算中,我总是使用双倍的“额定”电阻进行操作。

Id=2.0μA 时栅极阈值电压 Vgsth=4.0..250V。 图 3 显示了传输特性的温度依赖性。 由此可见,8V足以保证通道完全打开。 “其他一切对我来说都不重要。”

栅极漏电流 IGSS=100nA 我们并不感兴趣。

Vgs=130V、Vds=10V 时总栅极电荷为 43nC。 该参数定义了触发电路(栅极驱动器)的要求。 对于此类电路的大致计算,请参阅我的网站上有关 TL494 IC 使用的材料。 间接地,它也决定了晶体管的热安全性,因为主要部分的热量正是在瞬态过程中释放的。 图 6 显示了其对栅极电压的依赖性。 可以看出,首先,栅极“电容”是非线性的,其次,在 12V 电源下打开和关闭沟道所需的电荷不会相同。 其次,它实际上独立于通道上的电源电压。

开启和关闭时间延迟均不超过 66 ns 的延迟,这适合我们。

输入和输出罐 - 我们已经讨论过输入罐。 输出决定漏极电路的谐振,该谐振由 RC 阻尼器处理。 然而,与负载本身(变压器整流器)产生的振荡器相比,它们并不严重。

续流二极管参数 我们不是特别感兴趣。

总共是多少?

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  • 通过电压、延迟和电容 - 我们适合
  • 就电流而言,占空比为 40% 时,通道上的压降限制为 1V(共 12 个可用)。 那么瞬时通道电流为 40 A(电阻 24 mOhm),期间平均值为 16 A。 我们将限制自己(考虑到温度限制)。
  • 在这种情况下,通道上的热功率(该时段的平均值)等于40%*1V*40A=16W。 从各个方面来说都是安全的。 值得注意的是,限制稳态开路状态下的工作模式的是通道电阻,而不是外壳和晶体的热参数。 嗯,这就是低压寿命……
  • 但这并没有考虑到过渡过程。 总的来说,考虑到 3 C/W 的总热阻(晶体管上 0.24 + 0.9,散热器上 1.8),建议将每个器件的总功率限制在不超过 40 W(基于 T = 芯片上 170 C,散热器上 70 C)。
  • 2.用手指头数数

    我编了 一个简单的标志 (在 Excel 98 中),您可以在其中评估转换器初级电路的热条件和效率 - 即开关和初级绕组上的损耗。 损失表示为开放状态(参见上面的段落)和过渡状态的损失之和。

    通态损耗与输入电流的平方(即功耗的平方)成正比,瞬态损耗与输入电流(功率)成线性正比。 可以看出,低功率时瞬态损耗占主导地位;高功率时,明沟电阻损耗增加,并急剧降低初级电路的效率。 同时,热损失相当低。 那些。 选择昂贵的大型 TO-247 或 TO-3 封装中的晶体管是不合理的 - 较小的 TO-220 封装不会提供更差的热条件。 至于散热效率和设计的可靠性,笔者更倾向于全绝缘TO-220(例如IRFI1010N)。

    那么输出功率Ru=200W的放大器我们该如何选择晶体管呢? 让我们设置最大损耗 - 开路状态下为 12.5%,瞬态状态下为 7.5%,这仅在最大功率下的初级电路中。 假设次级电路效率为 13%,则整体效率为 67%。 假设放大器本身的效率在全功率 Pу(例如 67 W)下也为 200%,我们有 Pin = 2.2 Py = 440 W。 在这种情况下,平均输入电流Iin = 440W / 12V = 37A,总占空比为80%的打开开关的电流为37A/0.8 = 46A。 开路状态下的损耗不应超过 55W,瞬态过程中的损耗不应超过 33W。 由于 Rotkr=I^2 *Rds(焦耳-楞次定律,让我提醒您),Rds 应不超过 55W/(46A)^2,即26 mOhm - “护照”值的两倍。 因此,IRFP054N 几乎没有余量。 但 IRFI1010N 和 BUZ100 的安装方式相同(当然是 TO-220,而不是 SMD 外壳)。 但每个臂必须安装 Rds=131 Ohm 的 BTS0.06 晶体管多达 5-6 个,但每个臂的冷却要求也将显着降低。 这通常用于安装完全不带散热器的 MiniDIP 或 SMD 器件的电池。 当然,并联晶体管需要特殊的电路设计技术和电路板布局,但输出功率在200-250W以上,根本就没有其他输出。 我好奇地参考了 Shikhman 在“Master 12 Volt”中关于 Lantsarov 放大器设计的历史文章

    至于前端消耗的功率,它实际上不取决于 Rds,仅取决于电流和前端的持续时间。 很可能将其放入周期的 2% 至 3% 中,并解决任何允许电流的问题。

    3.政权

    我们根据标称沟道电阻选择 TO-55 封装中的低压晶体管 (Vbrds = 100-220V),甚至更好的 TO-220 Fullpak

  • PN=25W Rms 时为 100 mOhm,PN=12W Rms 时为 200 mOhm,单路或并联
  • 对于高功率 - 每个臂总电阻的并联晶体管 - 8W 时高达 300 mOhm,5W 时高达 500 mOhm,等等。

    从热可靠性的角度来看,在单个并联晶体管和等效并联晶体管之间进行选择时,值得选择并联晶体管,并遵守 MIS 开关的并联规则。

    至于国际整流器开关的国内“克隆”,KP812A1 的最小通道电阻为 28 mOhm。 每肩一个KP812A1将拉动80-100W的输出功率,那么它必须并联。 此外,在相对低功耗的设计中,您可以使用 KP812B1 (35 mOhm)、KP812V1 (50 mOhm)、KP150 (55 mOhm)、KP540 (77 mOhm)。 不建议使用高沟道电阻的晶体管。

    出版: klausmobile.narod.ru

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