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花园疏花机 02.05.2024

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先进的红外显微镜 02.05.2024

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昆虫空气捕捉器 01.05.2024

农业是经济的关键部门之一,害虫防治是这一过程中不可或缺的一部分。来自西姆拉印度农业研究委员会中央马铃薯研究所 (ICAR-CPRI) 的科学家团队针对这一问题提出了一种创新解决方案——风力昆虫空气捕捉器。该设备通过提供实时昆虫种群数据来解决传统害虫防治方法的缺点。该捕集器完全由风能提供动力,使其成为一种无需电力的环保解决方案。其独特的设计使您能够监测有害和有益昆虫,从而全面了解任何农业地区的昆虫数量。卡皮尔说:“通过在正确的时间评估目标害虫,我们可以采取必要的措施来控制害虫和疾病。” ... >>

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硅在超低电荷水平下保持导电性 01.03.2020

美国国家标准与技术研究院 (NIST) 的研究人员提出了一种测量硅中带电粒子迁移率的新方法,该方法如果不被推翻,将大大扩展对半导体电荷转移过程的理解。

科学家们提出的方法可以对硅中电荷的移动速度进行最灵敏的测量,这是其作为半导体有效性的一个指标。 因此,新方法将使更准确地评估某些掺杂剂对硅电导率的影响成为可能,并将为改善半导体器件的特性奠定基础。 只有通过更好地了解流程,这是一个几乎无偿提高芯片性能的机会。 可以这么说,进行调音。

传统上,硅中电子和空穴的迁移率是通过霍尔法测量的。 该方法假设触点焊接在硅(半导体)样品上以通过电流。 这种方法的缺点是焊点处会出现缺陷或杂质,从而导致测量结果失真。

为了实验的纯度,NIST 的科学家使用了非接触式方法。 硅样品首先以可见光的超短脉冲形式暴露在低强度的光下,然后用远红外或微波范围的辐射脉冲照射样品。 弱可见光对硅产生了光掺杂效应:带电粒子以电子和空穴的形式出现在硅层中。

由于显而易见的原因,可见光无法穿透硅的厚度。 为此,用太赫兹辐射(在远红外范围内)照射光掺杂样品,其中硅是透明的。 并且样品中的带电粒子越多,穿透或被样品吸收的光就越多。 这里需要注意的是,为了更准确地测量样品中的电子迁移率,它的厚度应该相当大,最高可达 1 毫米。 这排除了样品表面缺陷对测量的影响。

然而,样品中可见光“引入”的电子和空穴数量必须尽可能少,以降低测量过程中的灵敏度阈值。 通常,为此,用一个光子照射样品,但在厚样品的情况下,一个光子会敲除硅中带电不足的粒子。 在用两个可见光光子照射样品中找到了一条出路。 之后,太赫兹辐射自由穿过样品,材料主体中的带电粒子数量最少。 据科学家称,灵敏度阈值从每平方厘米 10 万亿个电荷载流子降低了 100 倍至 2 万亿。

敏感度的门槛一降低,惊喜就一目了然。 事实证明,硅中电子的迁移率甚至能够增长到材料中非常稀少的载流子状态,这是以前没有人怀疑过的。 实际上,流动性本身比之前想象的要高 50%。 对于对照检查,使用同样是光敏半导体的砷化镓 (GaAs) 进行了类似的实验。 发现这种材料中电荷载流子的迁移率随着它们的密度降低而继续增长。 用新方法测得的载流子密度极限比之前认为的低约 100 倍。

在遥远或不远的将来,半导体将能够在非常低的电荷水平下运行。 至少理论上的极限已经被推得够远了。 这些是高度敏感的太阳能电池板、单光子探测器(量子计算机你好!)、超高效电子设备等等。

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